3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100MHz測(cè)試工作頻率
• 512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
• 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
• 32 DUTS 平行測(cè)試功能
• ADC/DAC 測(cè)試功能
• 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測(cè)試模組選項(xiàng)
• 好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
• 測(cè)試程式/測(cè)試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
• 多樣化測(cè)試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool等等
• zui經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的VLSI和消費(fèi)性混合信號(hào)晶片產(chǎn)品的測(cè)試方案

平行測(cè)試功能 
Chroma 3650可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供zui多512個(gè)數(shù)位通道，並具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能，zui高可同時(shí)測(cè)試 32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升量產(chǎn)效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有64個(gè)數(shù)位通道，並結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備 4 個(gè)數(shù)位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn)度。

彈性化架構(gòu) 
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時(shí)間需求的設(shè)備之上。Chroma 3650在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用先進(jìn)的規(guī)劃，具備AD/DA 轉(zhuǎn)換器測(cè)試模組、ALPG記憶體測(cè)試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描鏈測(cè)試模組等等選配，以確保符合未來多年的測(cè)試需求。

CRISP (軟體測(cè)試環(huán)境) 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的軟體測(cè)試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Platform)，是一個(gè)結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè)試機(jī)臺(tái)管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的設(shè)計(jì)，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯(cuò)工具，包含 : Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體模組，可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開發(fā)程式時(shí)的需求 ; 此外，Histogram tool 可用於重覆任一測(cè)試參數(shù)，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評(píng)估其測(cè)試流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計(jì)的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺(tái)，生產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測(cè)試階段。它提供產(chǎn)品導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI的各項(xiàng)參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的流程，即可開始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時(shí)間。

zui低價(jià)位的測(cè)試解決方案 
要配合現(xiàn)今功能日趨複雜的IC晶片，需要具備功能強(qiáng)大而且多樣化的測(cè)試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成本效益的測(cè)試解決方案，必須藉由降低測(cè)試時(shí)間和整體成本來達(dá)成，而非只是簡(jiǎn)單地減少測(cè)試系統(tǒng)的價(jià)格而已。 Chroma 3650的設(shè)計(jì)即是可適用於所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗(yàn)證、晶圓測(cè)試和成品測(cè)試。週邊設(shè)備。

Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面(TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)， 包括 SEIKOEPSON 、SHIBASOKU 、MULTI - TEST 、ASECO 、 DAYMARC、、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。

應(yīng)用支援 
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計(jì)皆能精準(zhǔn)地符合使用者的需求。不管使用者要快速提昇生產(chǎn)量、把握新興市場(chǎng)的機(jī)會(huì)、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新策略降低測(cè)試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容量，Chroma 位於的客服支援人員皆會(huì)竭盡所能提供客戶即時(shí)解有效率的解決方案。