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3650-CX SoC測試系統(tǒng)

更新時間:2024-11-10

簡要描述:

3650-CX SoC測試系統(tǒng)
主要特色:
?50/100MHz測試工作頻率
?256個 I/O 通道(I/O Channel)
?16/32 MW vector 記憶體
?16/32 MW pattern instruction 記憶體

  免費咨詢:0755-23217122

  發(fā)郵件給我們:xz01@junhuiyiqi.vip

3650-CX SoC測試系統(tǒng)

主要特色:

  • 50/100MHz測試工作頻率
  • 256個 I/O 通道(I/O Channel)
  • 16/32 MW vector 記憶體
  • 16/32 MW pattern instruction 記憶體
  • Multi-site 測試可達 32 sites
  • 16個 DPS 通道
  • 8個 PMU 通道
  • Per-Pin 時序頻率測試單位
  • zui高可選購1024M bit x 4 CH scan depth
  • 可選購記憶體測試用ALPG
  • 高達 16 high-voltage pins
  • 16 個高性能 DPS 通道
  • Windows® XP操作環(huán)境
  • C++ 程式語言與圖形人機介面設(shè)計
  • 採用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
  • 與周邊設(shè)備相容性高
  • All-in-One小型化氣冷式機臺設(shè)計,節(jié)省佔地面積
  • Cable Mount / Direct Mount

應(yīng)用範(fàn)圍

  • MCU/MCU + 嵌入式記憶體
  • NAND Flash Controller
  • PC I/O
  • Switch ICs
  • 智慧型電源管理裝置
  • 混合訊號、數(shù)位式、類比式 ICs
  • ADC/DAC/CODEC ICs
  • 各類消費性產(chǎn)品IC
  • 適用工程研發(fā)、晶粒測試及 Final Test
  • 電源 IC
  • LED 驅(qū)動 IC

Chroma 3650-CX實現(xiàn)高性價比的IC測試系統(tǒng) 
3650-CX採用All-In-One的小型化設(shè)計,除了擁有相當(dāng)競爭性的機臺價格之外,並具備高準(zhǔn)確性與高生產(chǎn)力。因此,能夠降低客戶的測試成本與提升IC產(chǎn)品的利潤。3650-CX具備多樣化的測試能力與強大的軟體工具,能夠用來測試包含MCU,NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC,Switch,LED驅(qū)動IC,以及Power IC和SoC等產(chǎn)品。

強大且功能完整的3650-CX系統(tǒng)軟體 - CRISP 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設(shè)計,CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具,包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等軟體模組,可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時的需求。

All-in-One小型化機臺設(shè)計節(jié)省佔地面積 
3650-CX將所有的測試儀器模組與機臺的電源系統(tǒng)全部整合在單一個測試頭的空間裡,並且採用氣冷式的設(shè)計。透過如此高整合度的小型化設(shè)計,可以大幅減少機臺的佔地面積,以節(jié)省整體的測試成本。

週邊設(shè)備 
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL & GPIB) , 可進行與晶圓針測機和送料機,包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。

 

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